Zeta電位與粒徑分析儀是一種集納米粒度測(cè)量、Zeta電位分析及分子量檢測(cè)于一體的多功能分析設(shè)備，廣泛應(yīng)用于納米材料、膠體化學(xué)、生物醫(yī)藥、食品、環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域。其核心功能是通過(guò)動(dòng)態(tài)光散射（DLS）、電泳光散射（ELS）及靜態(tài)光散射（SLS）技術(shù)，同步獲取顆粒的粒徑分布、表面電荷特性（Zeta電位）及分子量信息，為材料穩(wěn)定性評(píng)估、分散性優(yōu)化及工藝開發(fā)提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支撐。

　　Zeta電位與粒徑分析儀在操作前的準(zhǔn)備工作：

　　1、儀器狀態(tài)檢查

　　確認(rèn)儀器供電（220V穩(wěn)定電源）、接地（接地電阻≤4Ω）正常，避免漏電或電磁干擾（遠(yuǎn)離大功率設(shè)備如離心機(jī)、超聲清洗機(jī)）。

　　打開儀器主機(jī)電源，等待30分鐘預(yù)熱（光學(xué)系統(tǒng)、電極需達(dá)到穩(wěn)定工作溫度，一般為25±1℃），同時(shí)啟動(dòng)配套操作軟件，檢查軟件與儀器的連接狀態(tài)（無(wú)“通訊失敗”報(bào)警）。

　　檢查核心部件狀態(tài)：

　　光學(xué)系統(tǒng)：觀察光源（氙燈/汞燈）是否正常點(diǎn)亮，無(wú)閃爍、暗斑；

　　Zeta電極：確認(rèn)電極表面無(wú)腐蝕、結(jié)晶殘留，短期閑置需浸泡在去離子水中，使用前取出用無(wú)塵紙吸干水分；

　　分散單元：若測(cè)量粒徑需超聲分散，檢查超聲探頭是否清潔、攪拌槳轉(zhuǎn)動(dòng)是否順暢。

　　2、樣品準(zhǔn)備（關(guān)鍵步驟，直接影響測(cè)量結(jié)果）

　　粒徑測(cè)量樣品要求：

　　樣品需為均勻分散體系（避免肉眼可見沉淀），若樣品易團(tuán)聚，需用對(duì)應(yīng)分散介質(zhì)（如水、乙醇、有機(jī)溶劑）稀釋至合適濃度（一般吸光度在0.1-0.5AU之間，濃度過(guò)高易導(dǎo)致顆粒遮擋，過(guò)低則信號(hào)弱）。

　　若需分散，將樣品倒入分散池，開啟超聲分散器（功率20-50W，時(shí)間10-60秒，根據(jù)樣品調(diào)整，避免過(guò)度超聲破壞顆粒結(jié)構(gòu)），同時(shí)開啟攪拌（轉(zhuǎn)速50-200rpm，確保顆粒均勻懸?。?/div>